HALT/HASS试验技术在电子电工产品的应用--《电子世界》2013年03期
HALT/HASS试验技术在电子电工产品的应用
【摘要】：本文基于高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)的详细介绍,重点分析两种试验方法的可靠性测试步骤,并揭示其应用领域及实用价值。由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它在实际质量控制中成为比较有效地手段。高加速寿命试验HALT和高加速筛选试验HASS是非常有效地加速可靠性技术,它已在制造业中推广。其中HALT是在电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便重更改设计,消除缺陷,从而减少维修费用。HASS是在电子电工产品的生产阶段使用,它可快速暴露任何工艺缺陷。
【作者单位】：
【关键词】：
【分类号】：TN02【正文快照】：
由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它是有效的实际质量控制手段。高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)是非常有效的加速可靠性技术,在制造行业被广泛使用。其中,HALT是在电子电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便更改设计,消除缺陷
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HALT/HASS在光电通讯产品研发验证中的应用
【摘要】：本论文是基于公司管理层及研发团队针对缩短可靠性验证周期的需求而开展的研究,目的是以HALT (high accelerate life testing)高加速寿命试验为基础结合自身产品设计规范,优化改进可靠性试验流程,达到缩短试验周期,减少样品消耗,最终得到加快试验周期,降低成本的目的。
论文仔细分析了国内外HALT的发展现状,介绍了HALT试验的理论依据,实验条件,硬件要求等,针对公司的需求和现状,提出了以下6项研究内容,并制定了研究、试验方案。
1.高加速寿命试验是否可以作为传统可靠性验证试验的完全替代方案,或者部分替代方案。
2.高加速寿命试验与传统可靠性试验的换算关系。
3.高加速试验用于预验证,以提早发现设计潜在瑕疵,提高性验证一次成功率。
4.高加速试验替代传统Burn In用于生产线产品早期失效筛选。
5.如何制定企业内部标准,以便可以方便的重复。
6.出现失效后,如何最快进行失效分析,以制定修正计划。
经过大量试验验证,结果表明：
1.高加速寿命试验作为光电通讯产品非全新平台、技术的新产品研发引进过程中的可靠性验证项目是可行的。本公司产品通过96小时HALT可以符合应用需求。
2.高加速寿命试验可以验证产品设计极限,验证产品使用条件区间,暴露设计缺陷。
3.高加速寿命试验相比传统可靠性验证具有周期短,样品投入少,人员投入少,设备投入成本低等众多优点。
4.高加速寿命试验的失效与传统可靠性验证失效一样需要进行失效分析,制定改进措施,以提高产品可靠度。
5.高加速应力筛选替换传统burn in老化可以更有效筛出早期失效,减少潜在的客户投诉。
6.高加速寿命试验无法直接换算MTBF和FIT,如果需要这类寿命预估值,仍然需要结合HTOL寿命测试。
在经过本次研究之后,公司内制定了新的新产品引入验证程序,其中包含了极限验证,设计预验证,可靠性验证,早期失效筛选,日常生产可靠性监控,并将这流程制作成流程图以便今后更好的贯彻。
由于HALT标准是在已知产品及已知失效模型的基础上经过对现有产品进行试验验证而得出的,因此得出的HALT可靠性验证试验标准不适合于新工艺、新技术平台下的全新产品。新技术条件下设计出的产品可能在HALT下会有意外的失效。因此该标准适用于已知产品的技术变更,同系列产品中的衍生新产品,老产品的日常可靠性验证。对于全新技术平台下的新产品,建议使用HALT研究设计极限,暴露设计缺陷,改进完善后再用传统的可靠性验证进行验证,需稳定量产后收集HALT耐久度水平,再决定HALT的应用标准,以在最优化的条件下使产品满足应用需求。
HALT相对于传统可靠性试验在各方面都有着优势。对于没有计算MTBF或FIT需要,且客户可以接受HALT作为新产品验证标准的企业,是一项重大突破。虽然光电通讯行业需要一些额外的验证试验,如光缆、电缆的完整性试验,光、电接口插拔耐久度试验；本行业标准的符合度测试如MSA, FICOS,防尘试验等等,但以HALT与这些试验结合,将大大缩短试验周期。对于不适合完全使用HALT作为验证标准的新产品,在研发前阶段以HALT作为的设计余量验证也可以提高产品可靠度,提高产品可靠性验证的一次通过率。
虽然以HALT作为新产品验证中的可靠性验证优点颇多,但其遗留问题仍然需要我们不断去完善,诸如研究HALT引起的一些未知的失效模型,解决HALT无法预估MTBF/FIT的问题,如何制定业界认可的HALT验证标准等等,带着这些问题,我们会在今后的工作中继续深入研究,期待早日取得突破。
【关键词】：
【学位授予单位】：复旦大学【学位级别】：硕士【学位授予年份】：2011【分类号】：TN206【目录】：
摘要4-6Abstract6-8第一章 引言8-14 1.1 课题背景8-10 1.2 可靠性验证的现状10-11 1.3 可靠性验证的一般方法11 1.4 面临的主要问题11-12 1.5 解决策略12-13 1.6 研究方向及其重点13-14第二章 新产品研发与可靠性验证14-32 2.1 可靠性验证的基本原理14-17
2.1.1 什么是可靠性14-15
2.1.2 可靠性寿命预估15-17 2.2 可靠性试验在新产品研发中的作用17-19
2.2.1 新产品研发的不同阶段17-18
2.2.2 新产品的可靠性验证计划18-19 2.3 常用可靠性验证试验及其原理19-24
2.3.1 高温高湿电压偏置19-20
2.3.2 温度循环20-21
2.3.3 温度冲击21-22
2.3.4 高低温存储试验22-23
2.3.5 湿度循环23
2.3.6 机械冲击23-24
2.3.7 振动24 2.4 高加速寿命/加速筛选(HALT/HASS)试验24-32
2.4.1 高加速寿命试验HALT的历史及发展24-26
2.4.2 HALT/HASS试验目的分析方法及其优点26-28
2.4.3 HALT试验流程28-30
2.4.4 高加速应力筛选30-31
2.4.5 HALT/HASS的硬件要求31-32第三章 HALT/HASS替代可靠性试验方法的制定32-45 3.1 试验方案的构思32-36
3.1.1 HALT/HASS与传统试验的替代关系32
3.1.2 HALT/HASS的适用范围32-33
3.1.3 HALT与MTBF FIT的关系33-34
3.1.4 HALT传统可靠性试验的换算关系34
3.1.5 设计预验证34
3.1.6 合理的HALT企业标准34-35
3.1.7 HASS替代burn in35-36
3.1.8 HALT后失效的应变36 3.2 试验制定36-41 3.3 测试前后功能验证测试41-42 3.4 测试使用的设备42-43 3.5 试验现场43-44 3.6 小结44-45第四章 试验结果及结果分析45-60 4.1 试验结果45-55 4.2 结果分析55-57 4.3 工作流程改进57 4.4 小结57-60第五章 总结和展望60-61参考文献61-62致谢62-63
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苏州可信赖的环境可靠性测试，您最佳选择，HALT/HASS试验哪家好 | 无
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