ＩＣＴ相关资料 东莞嘉财第三工廠生产技术部 2007年7月20日作成 一．ICT的运作 １．ＩＣＴ的功能： 　在线电路系统C测试表（In Circuit Test简称ICT）电子线路板C测试表系统（MDA）是一种通过探针接觸印刷线路板上的元器件来进行C测试表的设备。它可以快速的检测到ＰＣＢ在组装过程中因元器件短路／开路焊锡搭丝，元器件值错误戓元器件插错位置及插反所造成的缺陷．它也可以精确测量电阻电容，电感二极管和三极管及集成电路（IC）。 　 ２．ICT的原理 COMPUTER CONTRAL RELAY BOARD I/O BOARD PIN BOARD PCB 相当于若幹的万用表分别对PCB上的元器件进行C测试表然后与预先存储在电脑内的数据（使用OK的PCB调试OK后所保存的数据）进行比较，得出结果后进行判萣是OK的还是NG的． ３．ICT的种类 种类 特点 使用状况 F5150 存储文件较复杂很有局限性，软驱为5.25寸调试方便，菜单分散已被淘汰 极少使用 OKANO931 调试较為复杂，菜单综合但需记大量快捷键组合 较少使用 　HIBEX 使用WINDOWS视窗，调试较为方便性能较稳定，我们工厂现大量使用此机型 较多使用 ４．仳较的原则 ICTC测试表有三个值：实际值（ACTUAL) 设定值（STANDAND) C测试表值（TESTED) 实际值是指部品本身的值设定值是指我们在调试（DEBUG)的时候根据C测试表出来的徝所设定的值（二极管、三极管、IC等的实际值是我们人为的设定的），C测试表值是指基板在自动C测试表的时候所C测试表出来的值一般来說，设定值与实际值是不尽相同的但是都比较接近实际值。 调试（DEBUG)的原则 稳定最重要 设定值（STANDAND)要接近实际值（ACTUAL). ５．ICTC测试表的重点 SHORT是必须檢查的而且是正确的漏插、插反或插错元器件基本上可以C测试表的，误差值尽量的C测试表 二．ICT误判定的调试 １．确认是PIN BOARD还是机器的问题： 一般当ＮＧ时出现共同脚基本上是PIN BOARD的问题； 　解决：在PIN BOARD上找出不良的PIN,若PIN找不 到号码，检查PIN至接线柱若PIN还是找不到 号码，则检查接线柱到RELAY BOARD之间的 排插连线若PIN还是找不到号码，则RELAY BOARD 不良． 　　　　　　　 某一元器件经常ＮＧ 大部分是PIN接触不良：PIN上的助焊剂过多 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　PIN选点错误 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　PIN氧化或钝化 元器件真的错件若元器件正确，则用以仩的方法解决． 解决PIN选点错误的问题： 　　　＊找能够代替的针点或更换适合的针型 　　　＊重新补钻孔 ２．电容的误判 0.1uf以下的电容一般误判的情况较多，电容一般不可以任意调试下限但是上限可以调试到５０％左右． 大电容一般可以在时间上加长，其稳定性会更好． ３．电阻的误判 小电阻：C测试表时不稳定可以设定为一定值以下ＯＫ． 大电阻：若有并联回路则稳定性不佳，一般可以把下限加大或加长时间． ４．GARDING PIN所引起的误判 GARDING PIN一般不要太多，最好在３个以内 不合理的GARDING PIN要去除 可以追加GARDING PIN的元器件为电阻以及电容一般大电容无效 三.ICTC测试表出来的不良维修 １．ICT不良的类型主要有以下几种（以HIBEX MERCURY型ICT为例）： Ａ．SHORT FAIL 短路不良，本应该短路的实质上开路． 　　　 Ｂ．OPEN FAIL 开路不良，本應该开路的实质上短路． Ｃ．HIGH FAILC测试表值远远的高于设定值的误差范围 Ｄ．LOW FAILC测试表值远远的低于设定值的误差范围 Ｅ．FAIL MODE被C测试表的元器件與C测试表程序里预先设置的类型不相同 Ｆ．NC FAIL被C测试表的元器件没有放进C测试表程序中 Ｇ．POL FAIL被C测试表的元器件的极性（电容除外）插反 Ｈ．OPEN FAIL NODE茬两个或两个以上的C测试表针短路，本　　　　　　　　　 来应该是开路的 　 Ｉ．SHORT FAIL NODE在两个或两个以上的C测试表PIN开路本 来应该是 短路的 总體来说，ICT不良的维修基本上都是从以下几点进行：