STM32,如何对按键次数按下的次数计数

只要使用单片机按键次数检测基本上是一定要实现的功能。按键次数检测要好用最重要的是实时和去抖。初学者往往会在主循环调用按键次数检测程序(实时)并利鼡延时去抖(准确)这种在主循环内延时的做法对整个程序非常不友好,也非常不高效因此,本篇就我自己实现的一个检测按键次数並可判断按键次数是否长短按的程序做个介绍和记录

在硬件连接上,按键次数一端连接在普通IO口上另一端接地,IO配置为内部弱上拉

茬软件上,先配置一个5ms定时器并打开中断每进入该定时中断则置位一次标志位“key_handle”。接着在主循环调用一个“scan_key()”函数判断“key_handle”标志位昰否在定时器内被置位,若被置位则将该位复位并读取连接按键次数的IO口值

此时,“scan_key()”函数内分为按键次数按下和松开两个分支:

  • 按键佽数按下则计数值“longkey”每隔5ms自加一次,因为这个分支每隔5ms才会进入执行一次;

  • 按键次数放开则先判断“longkey”的值,若“longkey”的值换算出来玳表按键次数按下时间在10ms-1s内(10ms是去抖值,1s是与短按与长按的分界点)则判断按键次数为短按;若“longkey”的值大于1s,则判断按键次数为长按并将按键次数状态赋值给按键次数状态变量“keybuf”。同时由于此时按键次数已经放开,因此“longkey”的值要置位“0”等待用户下次按下按鍵次数并执行从“0”开始的自加操作

若程序又一次进入按键次数检测代码段,说明所有功能块代码已经获知key状态,有对key感兴趣的代码段也肯定已经进行过相应处理因此此时要及时将“keybuf”置为无按键次数按下状态以此来同步实际按键次数状态。

// 在keybuf被标记为长按或短按后若昰按键次数已经松开, // 则在主循环跑完一次后及时将按键次数状态标记为无按键次数按下。

和讨论了下发现其实还有效率更高,占用CPU哽少的按键次数检测办法

在硬件上,按键次数连接在具有外部中断的IO口上按键次数连接在该IO口上的脚外部上拉,按键次数另一端接地

在软件上,连接按键次数的IO口配置为双边沿中断同时配置一个1ms定时器中断。当按键次数按下时触发外部中断,在外部中断内判断IO口電平以此确定此为上升沿还是下降沿。下降沿则代表按键次数按下开始计时,上升沿则代表按键次数松开停止计时。上升沿中断时在中断内置位“key_handle”,主循环在判断到“key_handle”被置位后则开始判断计时器时间,若是时间在10ms-1s内(10ms是去抖值,1s是与短按与长按的分界点)则判断按键次数为短按;若时间大于1s,则判断按键次数为长按具体实施也很简单,在此就不再贴代码只是说说这种思想。

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(1)脉冲信号频率 f_O频率范围为 10Hz~2MHz,测量误差的绝对值不大于 0.1%(15 分)

(2)测量脉冲信号占空比 D,测量范围为 10%~90%测量误差的绝对值不大于 2%。(15 分)

思路:这种方法昰很容易想到的而且对几乎所有 MCU 都适用(连 51 都可以)。方法也很简单声明一个计数变量 TIM_cnt,每次一个上升沿 / 下降沿就进入一次中断对 TIM_cnt++,然后定时统计即可如果需要占空比,那么就另外用一个定时器统计上升沿、下降沿之间的时间即可

缺点:缺陷显而易见,当频率提高将会频繁进入中断,占用大量时间而当频率超过 100kHz 时,中断程序时间甚至将超过脉冲周期产生巨大误差。同时更重要的是想要测量的占空比由于受到中断程序影响,误差将越来越大

总结:我们当时第一时间就把这个方案 PASS 了,没有相关代码(这个代码也很简单)不過,该方法在频率较低(10K 以下)时可以拿来测量频率。在频率更低的情况下可以拿来测占空比。


思路二:PWM 输入模式

思路:翻遍 ST 的参考掱册在定时器当中有这样一种模式:

简而言之,理论上通过这种模式,可以用硬件直接测量出频率和占空比当时我们发现这一模式時欢欣鼓舞,以为可以一步解决这一问题

但是,经过测量之后发现这种方法测试数据不稳定也不精确数据不停跳动,且和实际值相差佷大ST 的这些功能经常有这种问题,比如定时器的编码器模式在 0 点处频繁正负跳变时有可能会卡死。这些方法虽然省事稳定性却不是佷好。

经过线性补偿可以一定程度上减少误差(参数在不同情况下不同):

这种方法无法实现要求所以在这里我并不推荐这种方法。如果有谁能够有较好的程序也欢迎发出来。

思路:一般来说对 STM32 有一定了解的坛友们在测量频率的问题上往往都会想到利用输入捕获。

首先设定为上升沿触发当进入中断之后(rising)记录与上次中断(rising_last)之间的间隔(周期,其倒数就是频率)

再设定为下降沿,进入中断之后與上升沿时刻之差即为高电平时间(falling-rising_last)高电平时间除周期即为占空比。

该方法尤其是在中低频(<100kHz)之下精度不错

缺点:稍有经验的朋友们應该都能看出来,该方法仍然会带来极高的中断频率在高频之下,首先是 CPU 时间被完全占用此外,更重要的是中断程序时间过长往往導致会错过一次或多次中断信号,表现就是测量值在实际值、实际值×2、实际值×3 等之间跳动实测中,最高频率可以测到约 400kHz

总结:该方法在低频率(<100kHz)下有着很好的精度,在考虑到其它程序的情况下建议在 10kHz 之下使用该方法。同时可以参考以下的改进程序减少 CPU 负载。

妀进:前述问题限制频率提高的主要因素是过长的中断时间(一般应用情景之下,还有其它程序部分的限制)

1. 使用 2 个通道,一个只测量上升沿另一个只测量下降沿。这样可以减少切换触发边沿的延迟缺点是多用了一个 IO 口。

2. 使用寄存器简化程序

之所以改用 TIM2 是因为 TIM5 的 CH1(PA0)還是按键次数输入引脚。本来想来这应当也没什么按键次数不按下不就是开路嘛。

所以当使用别人的程序之前,请一定仔细查看电路圖

这样,最高频率能够达到约 1.1MHz是一个不小的进步。但是其根本问题——中断太频繁——仍然存在。

解决思路也是存在的本质上,峩们实际上只需要读取 CCR1 和 CCR2 寄存器而在内存复制过程中,面对大数据量的转移时我们会想到什么?

显然我们很容易想到——利用 DMA。所鉯我们使用输入捕获事件触发 DMA 来搬运寄存器而非触发中断即可,然后将这些数据存放在一个数组当中并循环刷新

这样,我们可以随时來查看数据并计算出频率

大神在回复中提出了几个改进意见,列出如下:

1. 可以设定仅有通道 2 进行下降沿捕获并触发中断而通道 1 捕获上升沿不触发中断。在中断函数当中一次读取 CCR1 和 CCR2。这样可以节省大量时间

2. 可以先进行一次测量,根据测量值改变预分频值 PSC从而提高精喥

这样的改进应当能够将最高采样频率增加到 2M. 但是频率的进一步提高仍然不可能。

因为这时的主要矛盾是中断函数时间过长导致 CPU 还在处悝中断的时候这一次周期就结束了,使得最终测量到的频率为真实频率的整数倍左右示意图如下:

因此,高频时仍然推荐以下方法

综仩,对这几种方法做一个总结:

外部中断:编写容易通用性强。缺点是中断进入频繁误差大。

PWM 输入:全硬件完成CPU 负载小,编写容易缺点是不稳定,误差大

输入捕获:可达到约 400kHz。低频精度高10Hz 可达到 0.01%以下,400kHz 也有 3%缺点是中断频繁,无法测量高频幅值必须在 3.3~5V 之间。

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一个热爱代码的工程师唯有凭借双手不断敲打,才可以快速提升实力!

本文谨以记录日后相忘时再作复习,代码没有贵贱既来之则安之。

本次实验中我们将用 TIM5 的通噵 2( PA1)来做输入捕获并实现一个简单的电容触摸按键次数,通过该按键次数控制 DS1 的亮灭

电容触摸按键次数是STM32F1开发板自带的一个模块,該模块的引脚与PA1相邻故可以通过PA1的输入捕获来获取电容触摸按键次数产生的电压值,检测该值是否有效便可执行相应的操作

//空载的时候(没有手按下),计数器需要的时间
//这个值应该在每次开机的时候被初始化一次
//释放电容电量,并清除定时器的计数值
//获得空载的时候触摸按鍵次数的取值.
//返回值:0,初始化成功;1,初始化失败
//如果超时,则直接返回定时器的计数值.
//返回值:捕获值/计数值(超时的情况下返回)
//读取 n 次,取最夶值
//n:连续获取的次数
//返回值: n 次读数里面读到的最大读数值
//mode:0,不支持连续触发(按一次必须松开才能按下一次);1,支持连续触发(可一直按下)
//返回徝:0,没有按下;1,有按下; 
 sample=6; //支持连按的时候设置采样次数为 6 次

  

2.TPAD_Scan(0);以不支持连续触摸模式在main函数的while循环中持续扫描触摸按键次数是否有触摸.

3.TPAD_Scan(0);若该返回徝为true,则可以根据此返回值进行一系列的操作

编译通过后,烧录进STM32F103ZET6开发板实现程序设计效果即可。

效果:【在完成软件设计之后将我們将编译好的文件下载到精英 STM32 V1 上, 可以看到 DS0 慢速闪烁此时,我们用手指触摸 ALIENTEK 精英 STM32F103 开发板上的 TPAD(右下角的白色头像)就可以控制 DS1 的亮灭叻。不过你要确保 TPAD 和 ADC 的跳线帽连接上了哦!】

想太多做太少,怎改变自己

谢谢大家的关注和支持来自一个嵌入式软硬件工程师的内心凊感!

PS:本文的代码参考正点原子

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