最新双球差校正JEM-ARM200F系列高分辨透射电镜的功能及其高分辨率等优异性能：>>显微镜>电子显微镜(扫描电镜、透射电镜)>HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
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更新时间： 9:25:33
产地：日本
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天美（中国）科学仪器有限公司
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&电镜球差校正技术的实用化，使得同时进行超高分辨率观察和超高灵敏度分析成为可能。日立高新技术公司与CEOS公司共同的努力，成功地开发出了新一代扫描透射电子显微镜(STEM)。
HD-2700通过球差校正，用大会聚角获得了亚纳米级电子束，在分辨率和分析性能获得重大的进步。
HD-2700共有三种型号，分别是配有球差校正的高分辨型和标准型，以及无球差校正型，可根据应用需求选择。
1. 高分辨观察
*利用金颗粒保证0.144nm分辨率DFSTEM像（标准型）
2.增加了探针电流(约为非校正的STEM探针电流的10倍)，可以进行高速、高灵敏度能谱分析
*可以在更短的时间内获得元素的面分布图
*检测微量元素成为可能
3.简化的操作
*提供了专用的GUI自动调节球差校正器
4.整体的解决方案
*样品杆与日立FIB兼容，提供了纳米尺度的整体解决方案：从制样到数据获得和最终分析
5.多种评价/分析功能可选
*同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像
*可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得)
*实时衍射(DF-STEM像和衍射像可以同时观察)
*低剂量功能可以减少由电子束造成的样品破坏/污染
*可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)
*精确的放大倍率校准功能
技术指标：
(晶格分辨率)
1、配有球差校正的标准型 0.144nm，电子枪：冷场或热场
2、配有球差校正的高分辨型 0.136nm，电子枪：冷场
3、无球差校正型 0.204nm，电子枪：热场
100x -10,000,000
图像模式 相衬度像(TE像)
原子序数衬度像(ZC像)
电子衍射花样(可选)
特征X射线像(可选 ：EDX)
EELS像(可选 ：ELV-2000)
电子枪 场发射电子源，内置阳极加热器
透镜系统 两级聚光镜、物镜、投影镜
球差校正器 六极/传输 双重（标准型和高分辨型）
扫描线圈 两级电磁线圈
电位移 0.5&m
类型 侧插式
移动范围 X,Y=&1mm，T=&30&(单倾样品杆)
Windows XP
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高分辨扫描透射电子显微镜原理及其应用.pdf 7页
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高分辨扫描透射电子显微镜原理及其应用*
+ email：zhihongjia@
贾志宏 丁立鹏 陈厚文
DOI：10.7693/wl
(重庆大学材料科学与工程学院 重庆 400044)
The principle and applications of high-resolution
microscopy
DING Li-Peng
Chen Hou-Wen
( College of Materials Science and Engineering ，Chongqing University ，Chongqing
400044 ，China)
扫描透射电子显微术是目前应用最广泛的电子显微表征手段之一，具有分辨
率高、对化学成分敏感和图像直观易解释等特点。其中高分辨扫描电子显微镜可以直接获得
原子分辨率的Z衬度像，结合X射线能谱(EDS)和电子能量损失谱(EELS)，可在亚埃尺度上对
材料的原子和电子结构进行分析。文章简述了扫描透射电子显微镜的基本原理及其应用现
状，重点论述了高角环形暗场(HAADF)和环形明场(ABF)像的成像原理、特征和应用。此外，
文中还对原子尺度分辨率的X射线能谱及电子能量损失谱元素分析方法进行了简述。
扫描透射电子显微镜，高角环形暗场像，X射线能谱，电子能量损失谱
Scanning transmission electron microscopy (STEM) is currently one of the most
widely used methods for microscopic imaging, due to its advantages of improved resolution, high
compositional sensitivity, and directly interpretable images. High-resolution STEM can directly ob-
tain atomic resolution Z-contrast images, and also analyze the atomic and electronic structure of ma-
sub-angstrom
combination
energy-dispersive
spectrometry
and electron energy loss spectrometry (EELS). The fundamental concept and applications of STEM
are briefly introduced, and the principle, characteristics and applications of high angle annular dark
described.
characteristics
applications
and EELS are also bri
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美国英思科;M40四合一气体检测仪;M40多种气体检测仪;M40美国英思科
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HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜
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北京宏昌信科技有限公司
【简单介绍】
电镜球差校正技术的实用化，使得同时进行超高分辨率观察和超高灵敏度分析成为可能。日立高新技术公司与CEOS公司共同的努力，成功地开发出了新一代扫描透射电子显微镜(STEM)。
【详细说明】
&&HD-2700带有球差校正的场发射扫描透射电子显微镜&&& 电镜球差校正技术的实用化，使得同时进行超高分辨率观察和超高灵敏度分析成为可能。日立高新技术公司与CEOS公司共同的努力，成功地开发出了新一代扫描透射电子显微镜（STEM）。&&& HD-2700通过球差校正，用大会聚角获得了亚纳米级电子束，在分辨率和分析性能获得重大的进步。&&& HD-2700共有三种型号，分别是配有球差校正的高分辨型和标准型，以及无球差校正型，可根据应用需求选择。&特点：1. 高分辨观察*利用金颗粒保证0.144nm分辨率DFSTEM像（标准型）2.增加了探针电流（约为非校正的STEM探针电流的10倍），可以进行高速、高灵敏度能谱分析*可以在更短的时间内获得元素的面分布图*检测微量元素成为可能3.简化的操作*提供了专用的GUI自动调节球差校正器4.整体的解决方案*样品杆与日立FIB兼容，提供了纳米尺度的整体解决方案：从制样到数据获得和最终分析5.多种评价/分析功能可选*同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像*可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统（DF-STEM像可以同时获得）*实时衍射（DF-STEM像和衍射像可以同时观察）*低剂量功能可以减少由电子束造成的样品破坏/污染*可以配备超微柱头样品杆进行三维分析（360度旋转）*精确的放大倍率校准功能&技术指标：
（晶格分辨率）
&1、配有球差校正的标准型&&&&& &0.144nm，电子枪：冷场或热场
&2、配有球差校正的高分辨型&&&& 0.136nm，电子枪：冷场
&3、无球差校正型&&&&&&&&&&&&&& 0.204nm，电子枪：热场
&100x -10,000,000
&图像模式 相衬度像（TE像）
&原子序数衬度像（ZC像）
&电子衍射花样（可选）
&特征X射线像（可选 ：EDX）
&EELS像（可选 ：ELV-2000）
&电子枪&&&&&&&&&&&& 场发射电子源，内置阳极加热器
&透镜系统&&&&&&&&&& 两级聚光镜、物镜、投影镜
&球差校正器&&&&&&&& 六极/传输 双重（标准型和高分辨型）
&扫描线圈&&&&&&&&&& 两级电磁线圈
&电位移&&&&&&&&&&&& 0.5&m
&类型&&&&&&&&&&&&&& 侧插式
&移动范围&&&&&&&&&& X,Y=&1mm，T=&30&（单倾样品杆）
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