品牌：润联机械
规格参数：2016款
产品产地：
规格含量：2016款
运输说明：物流
产品简介:高低温试验箱规格及性能一、产品用途：主要用于模拟高温、低温环境，适用于对电工电子产品、汽车摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料，进行高温或低温环境下贮存、运行等进行适应性试验。二、产品特点：进口制冷机组，关键配件均为进口国际品牌，整个系统配备多重保护装置，运行安全可靠。特别设计的风循环装置，通过涡轮集风口及可调式百叶窗出风口，保证箱内温度均匀。控温系统采用原装进口品牌，操作简便，控温。标准化专业化批量，性能稳定，性价比高。三、参照标准GB/T2电工电子产品环境试验试验A：低温GB/T2电工电子产品环境试验试验B：高温GB/T02电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N:温度变化四、高低温箱规格选型表四、型号及主要参数高度可调样品搁架及线缆孔规范整洁的制冷系统1、夏马勒巴格镇电路板高低温试验箱温湿度湿热试验箱RK-TH--100S的供应商热门搜索:湿热盐雾腐蚀试验箱YWX紫外老化试验箱LUV高低温交变湿热试验箱ZL-80环境试验机FR-1204LED灯老化恒温恒湿试验箱60℃高低温试验箱TN/GDW-100B【河北德科机械设备有限公司】诚信经营企业★★诚信经营示范单位★★安全放心购物企业★★全国质量信誉保证★★正品保证★★拨打电话请告诉我产品订货号，热线：【】2、夏马勒巴格镇电路板高低温试验箱温湿度湿热试验箱RK-TH--100S的供应商多种型号图片型号:JX166995环境试验机FR-1204型号:JX167006LED灯老化恒温恒湿试验箱60℃型号:JX146437高低温试验箱TN/GDW-100B【夏马勒巴格镇电路板高低温试验箱温湿度湿热试验箱RK-TH--100S的供应商一共有★★30★★多种型号以上只显示1-3种型号，如没有合适您的产品请咨询邢台秦星科技有限公司】3、夏马勒巴格镇电路板高低温试验箱温湿度湿热试验箱RK-TH--100S的供应商多种型号内容型号:JX166995环境试验机FR-1204恒温恒湿箱FR-1204恒温恒湿试验箱产品详细介绍:低温恒温恒湿箱FR-1204可程式恒温恒湿试验箱，可程式恒温恒湿箱产品说明：适合电子、塑胶制品、电器、仪表、食品、车辆、金属、化学、建材、航天、医疗等制品检测质量之用。本机专门测试各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿的性能。本机可选择中文或英文液晶显示触控式屏幕画面，操作简单，程序编辑容易。可显示完整的系统操作状况相关数据、执行及设定程序曲线。运转中发生异常状况，屏幕即刻自动显示故障原因及提供排除故障方法。设备特点：1高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，并采用平面无反作用把手，操作容易，安全可靠。2长方形复层玻璃观窗口，可在试验中进行试验品观察使用，窗口具防汗电热器装置可防止水气凝结水滴，及高亮度PL荧光灯保持箱内照明。3箱门双层隔绝气密迫紧，可有效隔绝内部温度泄漏。4具可外接式供水系统，方便于补充加湿桶供水，并自动回收使用。5压缩机循环系统采用法国泰康牌，更能有效去除冷凝管与毛细管间的润滑油并全系列采用环保冷媒（R23、R404、R507）。6控制器采用进口LCD显示屏幕，可同时显示测定值及设定值、时间。7控制器具有多段程序编辑及温度、湿度可做快速（OUICK）或斜率（SLOP）控制。8内置式移动滑轮便于移动及摆放并具有强力定位螺丝固定位置。恒温恒湿试验机FR-1204可程式恒温恒湿箱满足标准：1GB11158高温试验箱技术条件2GB10589-89低温试验箱技术条件3GB10592-89高低温试验箱技术条件4GB/T10586-89湿热试验箱技术条件5GB/T低温试验箱试验方法6GB/T高温试验箱试验方法7GB/T24233-93湿热试验箱试验方法8GB/T24234-93交变湿热试验方法9GB/T1温度变化试验方法10IEC90低温试验箱试验方法11IEC74高温试验箱试验方法12GJB1503高温试验13GJB1504低温试验14GJB1509湿热试验恒温恒湿试验机FR-1204可程式恒温恒湿箱主要参数：恒温恒湿试验机FR-1204可程式恒温恒湿试箱各型号尺寸参数型号80(A~G)150(A~G)225(A~G)408(A~G)608(A~G)800(A~G)1000(A~G)内部尺寸WxHxD(cm)40x50x0x75x0x95x100x100x100外部尺寸WxHxD(cm)90x136x110x171xxxx157温度范围-70℃~ 100℃(150℃)(A: 25℃B:0℃C:-20℃D:-40℃E:-50℃F:-60℃G:-70℃)湿度范围20~98RH(10-98RH/5~98RH为特殊选用条件）二测试范围(Testscope):1温度:-40℃~ 150℃2湿度：20~98三升降温速率(Velocity):平均每分钟2℃四机器精度(Accuracy):1解析精度:温度:001℃湿度：01RH2控制精度:温度:( /-)01℃湿度：( /-)15RH3温度波动度：（ /-）05℃栏目页面:runlian365com/product/2070html可程式恒温恒湿试验箱来源网址:runlian365com/chanpin/xx-166995html环境试验机FR-1204型号:JX167006LED灯老化恒温恒湿试验箱60℃LED灯老化恒温恒湿试验箱检测产品详细介绍:LED灯老化检测需要试验仪器：恒温恒湿试验箱，冷热冲击试验箱，高压老化试验箱LED灯恒温恒湿箱试验标准及其他仪器试验标准参考。一、高温高压及其冲击测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经验测试方法1,将5款LED灯具放置在一个室温为60℃的房间2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为额定输入电压的11倍,接通电源点灯24H,并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象4,点灯测试后通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试测试设置为点灯20s、熄灯20s,循环100次。测试要求A,灯具在经过高温高压测试后不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象B,灯具在经过冲击测试后不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。二、低温低压及其冲击测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经验测试方法1,将5款LED灯具放置在一个-15℃的环境下2,通过调压器将LED灯具的输入电压调为小额定输入电压的09倍3,接通电源点灯24H,并观察灯具是否有损坏、材料受热变形等异常现象4,点灯测试后通过继电器控制灯具在此环境下进行冲击测试测试设置为点灯20s、熄灯20s,循环100次。测试要求A,灯具在经过低温低压测试后不能发生表面脱漆、变色、开裂、材料变形等异常现象B,灯具在经过冲击测试后不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。三、常温常压冲击测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经验测试方法1,将5款LED灯具放置在一个室温为25℃的环境下2,按LED灯具的额定输入电压接通电源点灯3,通过继电器控制灯具在常温常压下进行冲击测试测试设置为点灯30s、熄灯30s,循环10000次。测试要求A,灯具在经过常温常压冲击测试后不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。温度循环测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经验测试方法1,将5款LED灯具放置在一个测试箱测试箱的温度可以调节温度变化速率2,按LED灯具的额定输入电压接通电源点灯3,测试箱的温度变化范围设置为从-10℃到50℃温变速率为大于1℃/min,但小于5℃/4,测试箱在高温和低温各保持05H,循环8次。测试要求A,灯具在经过温度循环测试后不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。五、恒定湿热测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经验测试方法1,将5款LED灯具放置在一个恒温恒湿箱恒温恒湿箱的设置为相对湿度95,温度为45℃2,按LED灯具的额定输入电压接通电源点灯48H;3,将样品取出后擦干表面水珠放在正常大气压和常温下恢复2H后进行检查。faruiyiqicom测试要求1,外观无锈蚀、裂痕或其它机械损伤2,灯具不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。振动测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经验测试方法1,将5款LED灯具样品包装好放置在振动测试台上2,将振动测试仪的振动速度设为300转/分钟振幅设为254厘米启动振动仪3,将灯具按以上方法在上下、左右、前后三个方向上分别测试30分钟。测试要求A,灯具在经过振动测试后不能发生零件脱落、结构损坏、点灯不亮等异常现象。寿命测试针对对象LED灯具含LEDDriver的成品灯具参照标准行业经测试方法1,将5款LED灯具在室温25℃的环境下按额定输入进行初始光通、功率、色温等参数的测试2,初始测试完成后将这些样品放置在一个室温为25℃的环境下按额定输入电压接通电源点灯3,前三个月每隔10天对这些样品进行一次和初始测试同等环境、同样条件的测试将测试的光通、功率、色温等记录下来并和初始参数进行对比4,测试进行到三个月之后则调整测试间隔为每月进行一次参数测试记录数据并和初始值对比测试要求1,灯具在寿命测试中当光通衰减为其初始光通的70的时间则为该样品的寿命通过所有样品的寿命的平均值计算可得出该LED灯具的平均寿命2,LED样品在测试过程中出现点灯不亮的现象则为其寿命时间栏目页面:runlian365com/product/2070html可程式恒温恒湿试验箱来源网址:runlian365com/chanpin/xx-167006htmlLED灯老化恒温恒湿试验箱60℃型号:JX146437高低温试验箱TN/GDW-100B高低温试验箱规格及性能一、产品用途：主要用于模拟高温、低温环境，适用于对电工电子产品、汽车摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料，进行高温或低温环境下贮存、运行等进行适应性试验。二、产品特点：进口制冷机组，关键配件均为进口国际品牌，整个系统配备多重保护装置，运行安全可靠。特别设计的风循环装置，通过涡轮集风口及可调式百叶窗出风口，保证箱内温度均匀。控温系统采用原装进口品牌，操作简便，控温。标准化专业化批量，性能稳定，性价比高。三、参照标准GB/T2电工电子产品环境试验试验A：低温GB/T2电工电子产品环境试验试验B：高温GB/T02电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N:温度变化四、高低温箱规格选型表四、型号及主要参数高度可调样品搁架及线缆孔规范整洁的制冷系统栏目页面:runlian365com/product/2070html可程式恒温恒湿试验箱来源网址:runlian365com/chanpin/xx-146437html高低温试验箱TN/GDW-100B联系方式:QQ:温馨提示：润联为您提供详细的产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取产品的具体资料，联系时请说明是在润联看到的，并告知型号
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当前位置：&>>&&>>&&>>&PCB电路板上为什么需要有测试点？
&&& 对学的人来说，在PCB电路板上设置测试点( point)是在自然不过的事了，可是对学机械的人来说，测试点是什么？
&&& 基本上设置测试点的目的是为了测试电路板上的零组件有没有符合规格以及焊性，比如说想检查一颗电路板上的有没有问题，最简单的方法就是拿万用电表量测其两头就可以知道了。
&&& 可是在大批量生产的工厂里没有办法让你用电表慢慢去量测每一片板子上的每一颗电阻、、电感、甚至是IC的电路是否正确，所以就有了所谓的ICT(In-Circuit-)自动化测试机台的出现，它使用多根探针(一般称之为「针床(Bed-Of-Nails)」治具)同时接触板子上所有需要被量测的零件线路，然后经由程控以序列为主， 并列为辅的方式循序量测这些电子零件的特性，通常这样测试一般板子的所有零件只需要1~2分钟左右的时间可以完成，视电路板上的零件多寡而定，零件越多时间越长。
&&& 但是如果让这些探针直接接触到板子上面的电子零件或是其焊脚，很有可能会压毁一些电子零件，反而适得其反，所以聪明的工程师就发明了「测试点」，在零件的两端额外引出一对圆形的小点，上面没有防焊(mask)，可以让测试用的探针接触到这些小点，而不用直接接触到那些被量测的电子零件。
&&& 早期在电路板上面还都是传统插件(DIP)的年代，的确会拿零件的焊脚来当作测试点来用，因为传统零件的焊脚够强壮，不怕针扎，可是经常会有探针接触不良的误判情形发生，因为一般的电子零件经过(wave soldering)或是SMT吃锡之后，在其焊锡的表面通常都会形成一层锡膏助焊剂的残留薄膜，这层薄膜的阻抗非常高，常常会造成探针的接触不良，所以当时经常可见产线的测试作业员，经常拿着空气喷枪拼命的吹，或是拿酒精擦拭这些需要测试的地方。
&&& 其实经过波峰焊的测试点也会有探针接触不良的问题。后来SMT盛行之后，测试误判的情形就得到了很大的改善，测试点的应用也被大大地赋予重任，因为SMT的零件通常很脆弱，无法承受的直接接触压力，使用测试点就可以不用让探针直接接触到零件及其焊脚，不但保护零件不受伤害，也间接大大地提升测试的可靠度，因为误判的情形变少了。
&&& 不过随着科技的演进，电路板的尺寸也越来越小，小小地电路板上面光要挤下这么多的电子零件都已经有些吃力了，所以测试点占用电路板空间的问题，经常在设计端与制造端之间拔河，不过这个议题等以后有机会再来谈。测试点的外观通常是圆形，因为探针也是圆形，比较好生产，也比较容易让相邻探针靠得近一点，这样才可以增加针床的植针密度。
&&& 1.使用针床来做电路测试会有一些机构上的先天上限制，比如说：探针的最小直径有一定极限，太小直径的针容易折断毁损。
&&& 2.针间距离也有一定限制，因为每一根针都要从一个孔出来，而且每根针的后端都还要再焊接一条扁平，如果相邻的孔太小，除了针与针之间会有接触短路的问题，的干涉也是一大问题。
&&& 3. 某些高零件的旁边无法植针。如果探针距离高零件太近就会有碰撞高零件造成损伤的风险，另外因为零件较高，通常还要在测试治具针床座上开孔避开，也间接造成无法植针。电路板上越来越难容纳的下所有零件的测试点。
&&& 4.由于板子越来越小，测试点多寡的存废屡屡被拿出来讨论，现在已经有了一些减少测试点的方法出现，如Net test、Test Jet、Boundary Scan、JTAG等；也有其它的测试方法想要取代原本的针床测试，如AOI、X-Ray，但目前每个测试似乎都还无法100%取代ICT。
&&& 关于ICT的植针能力应该要询问配合的治具厂商，也就是测试点的最小直径及相邻测试点的最小距离，通常多会有一个希望的最小值与能力可以达成的最小值，但有规模的厂商会要求最小测试点与最小测试点间距离不可以超过多少点，否则治具还容易毁损。
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引言在电子产品开发的实践过程中，往往会碰到很多干扰方面的问题，这些问题对产品的可靠性和性能指标都会产生严重影响，同时需要大量时间和资源去进行排查修正，成为产品量产的瓶颈。在测试测量产品设计中，就是较为常见的一类干扰。共地干扰来源共地干扰，又称公共地阻抗耦合干扰，是由于电路中的...[][][][][][][][][][]
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您现在的位置：&&>>&&>>&&>>&&>>&正文阅读次数：人次高温高压电子压力计调测运用1.VIP俱乐部2.查看资料3.订阅资料4.在线投稿5.免费阅读6.会员好评7.原创检测8.教材赠送9.联系我们10.常见问题
目前国内外对高温高压井的概念没有做出统一的解释和规定,国际高温高压井协会、中国石油天然气集团公司将高温高压井定义为:井口压力大于70MPa(或井底压力大于105MPa)、井底温度高于150℃的井。油气井地层压力和温度的准确性直接影响到油藏评价工程师对地层的评价结果的可靠性和对生产指导的正确性。存储式电子压力计测试技术已属成熟技术,深井中应用这一技术,可充分发挥其高精度、高分辨率、长时效、连续可靠等优点。与常规井相比,高温高压井试油、完井作业难度大,井下工作环境复杂,资料录取要求严格,给高温电子压力计的资料录取工作带来了很大的困难,对电子压力计的性能指标提出了更高的要求[1]。
1　电子压力计测试工艺
电子压力计按下井方式不同可分成四种不同的作业工艺:压力计托筒下井,钢丝作业下井,电缆作业下井,永久式压力计。目前我们常用压力计托筒携带电子压力计或是射流泵排液时泵芯携带电子压力计下井。压力计托筒下井测试工艺是在地面编好录取数据程序,用计算机通过接口传送给电子压力计,接上压力计工作高温锂电池,然后将压力计装到压力计托筒上,与地层测试工具一起下到井下进行地层测试,然后同地层联作测试管柱起出,将压力计拆下,通过接口与计算机连接,回放所存储的数据到计算机进行数据处理。在压力计托筒工艺中,压力计托筒一般处于封隔器之上测试阀之下,有时也为了更加真实地取得测试层的地层资料而将压力计托筒下到封隔器之下。压力计托筒有两种不同的形式:内置式和外置式。
1.1　内置式
压力计置于压力计托筒内部空间,可以安装两支压力计,压力计托筒与地层测试工具串连下井。这种压力计托筒的优点是:由于有外筒保护,压力计不会受到井壁的碰撞,配备有防震装置,防止压力计在射孔和其它机械震动时损坏压力计。缺点:只能测内压不能测外压,由于受内外径限制,外筒壁不能做得太厚。
1.2　外置式
两支压力计置于托筒外槽内,托筒上部有卡环,将压力计卡住,下部其中两个位置有导压孔,可测管柱内部压力。压力计上部接一般胶圈,起减震作用,这种压力计托筒的优点是既可测管柱内压力,又可测管柱外压力,投棒和钢丝作业对压力计完全没有影响。缺点是对压力计保护不够,压力计容易受到井壁撞击而损坏,减震性能与内置式相比要差些。压力计托筒下井测试工艺的特点:施工工艺简单,需要的相关设备少,因此工作可靠易行。缺点:灵活性差,录取数据程序是在地面编好设定的,压力计一旦下井无法改变,无法实时做出压力导数曲线,关井时间长短要靠经验判断。
2　高温高压地层测试电子压力计出现的问题
2.1　无法通讯
电子压力计和回放软件无法建立信息通道,压力计存储芯片内采集的数据无法通过正常渠道发送到电脑上进行资料处理。无法通讯通常造成两种结果:一是存储芯片损坏,数据破坏丢失;二是通讯渠道损坏,可以重新建立通讯渠道从而获得芯片内的数据,但此数据多为不完全数据。
2.2　数据非点
电子压力计的少数或部分采点完全失真,大幅度地偏离正常值,造成整个压力计曲线变形。非点有两种情况,一是少数非点,可以通过修改、删除非点,获得正常测试曲线;二是大量点,修改、删除后测试曲线失真,不能准确解释地层参数。
2.3　没有采点或采点不全
有时为了生产需要,电子压力计需要长时间处于地层高温条件下,高温条件很容易造成电子压力计的转换器、电路板、存储系统的损坏,或者电池电量不足造成压力计无法采集数据。
2.4　数据漂移
一般来说,电子压力计在地层温度下比在常温条件下走得要慢。电子压力计的时间误差随试油时间的延长而增大,高温造成压力计只能采集到部分有效数据,不能真实地体现地层参数[2]。
3　高温高压地层电子压力计测试工艺影响因素
3.1　井筒因素
高压油气井测试作业对井筒条件有两个方面的特殊要求:其一,套管应具备较高的气密封能力和抗外挤强度。高压油气井为控制合理的测试压差,一般都需要降低压井液密度后再射孔-测试联作试油,在顶替压井液的过程中有可能发生气层窜入井筒或套管在地层高压作用下外挤变形;特别是在求产过程中若因封隔器或管柱漏失造成气流窜入井筒,再经套管窜入浅表地层,其后果更为严重。其二,要求测试作业时的压井液的热稳定性、悬浮性及流动性能适应高温深井长时间求产测试的要求,避免卡封隔器的事故[3]。
3.2　井下工具可靠性
高温高压油气井井深、压力高、气产量高,一些过去常用的测试工具已不能适应测试作业的要求。高温地层对进行测试联作的工具都提出了更高的要求,要求所有下井工具都能抗高温高压的环境,特别情况下还需要抗硫化氢。在需要射孔的高温地层,为了避免高温使射孔弹药引起自燃提前射孔,需要对工具进行地面耐高温实验。
3.3　测试工艺和方法
电子压力计连续录取施工全过程的井下压力、温度数据,但实际上有时测试地层资料并非地层真实压力及温度的反映。压力计下井一般有以下三种情况:
(1)在预探井中进行地层测试,测试管柱均采用测试联作管柱,管柱下深对准射孔井段,压力计位于封隔器上方,离测试地层有一定的距离,获取地层数据需要进行外推。
(2)在生产井或试采井中,管柱下深位于油层上方,压力计位于管柱最下端,尽量贴近油层,获取真实的地层数据。
(3)在裸眼井中进行地层测试,为了防止钻井近井地带的污染进入测试管柱中,测试管柱下深超过油层底界,裸眼完井中不用进行射孔等措施,压力计下深对准油层中部,这样可以获取最真实的地层资料。在试油测试工艺中一般都采用第一种联作管柱模式进行测试,为了避免射孔、酸化和压裂等措施对压力计震动影响,压力计由于位于测试层上部,在保证安全的情况下,压力计尽量贴近封隔器下入。这种联作管柱模式下测试的地层资料并非反映真实的地层资料,需要对压力计数据进行外推及拟合,才能获得地层压力和温度的数据反映,但由于根据所选参数以及建立的模型不一样,所得出外推数据结果也有一定差异。
3.4　测试时间
长时间高温高压工作环境是压力计不稳定工作的主要因素。在高温深井中使用电子压力计,主要问题集中在电子压力计的电路板上。由于施工的需要,有时压力计长时间处于高温环境下,电路板在高温环境的工作稳定性由于受高温影响受到很大限制。
3.5　压力计采点编程设计
为了满足高标准、高质量的资料录取要求,同时为了采集有效的数据,保证压力计正常工作,在编程设计上,根据不同施工工艺、不同施工阶段对资料的要求程度不同,采取分段设计采点频率;下钻期间采点频率一般设计是60s一个点,对于测试期间采点频率设计为5s一个点,在后期排液期间一般设计30s一个点。
4　现场应用与效果分析
南堡5-81井,试油层位Es2+3,该井176#层,测井解释井段01.6m,2小层厚57m,含气层,孔隙度8.13%,渗透率0.72×10-3μm2。该井进行了油管传输射孔+APR联作测试,射孔井段65.0m,测试结论为高压低渗透含气层。之后对该层进行了压裂改造措施,并决定进行压后测试。该井管柱结构自下而上为:压力计托筒+开槽尾管+RTTS封隔器+安全接头+RTTS循环阀+提升短节+Φ73mm加厚油管+LPR-N阀×+RDS安全循环阀+提升短节+Φ73mm加厚油管2根+RD循环阀+提升短节+Φ89mm加厚油管444根+Φ89mm加厚油管短节2根;压力计托筒位置4708.43m。本次测试管柱的设计,为了取得地层真实资料,将压力计下封隔器之下,压力计下入位置更加接近测试地层。测试结束后起出压力计,一支现场无法回放出数据,另一支测压数据也出现部分漂移。本次测试井深为4762.5m,实测地层静温为161.3℃,其压后实测压力、温度曲线图如图1所示。从图1中我们可以看到,原设计二开二关测试时间为157h,实际压力计只采集到115h的数据,并且在测试84小时后压力和温度数据出现异常;图中红色代表温度,蓝色代表压力,压力最高值达98MPa,温度最高值达600℃;温度曲线出现异常时间较早,说明虽然压力计下入的位置距油层中部很近,正因为如此受高温(实测温度159.5℃)影响严重,压力计在井下工作时间太长造灵敏度下降,导致压力计数据飘移,不能正常工作。由于二开井后期曲线出现异常,不能对二关井恢复段曲线进行评价,因此不能用于对地层有效渗透率、地层表皮系数等计算。
5　结论与建议
1)电子压力计具有压力、温度两个传感器,可以同时记录压力、温度两种信号。在数据处理中只有时间、压力、温度每种数据都准确,才算得上是合格的试井资料,才能准确地反映油藏压力和温度的真实变化情况。
2)在取全取准资料的前提下,合理安排测试工作制度和工序,确保压力计能在高温条件下正常工作,提高资料录取的成功率。
3)在高温高压井进行测试环境下,准确预测地层温度对选用合适量程的压力计起到关键作用,电子压力计正常工作时间是测试工作制度确定的重要的考虑因素,也直接影响测试成功率。
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