OLYMPUS 激光显微镜 LEXT OLS4000
OLYMPUS 激光显微镜 LEXT OLS4000[详细参数]
OLYMPUS 激光显微镜 LEXT OLS4000[详细内容]
OLYMPUS 激光显微镜 LEXT OLS4000
配置405 nm激光，可以对微小领域进行高分辨率的3维观察、计测和粗糙度测量
配置新开发的双共焦系统，可以测量那些原本难以测量的样品。此外，还充实了粗糙度测量功能，灵活运用非接触式测量的优点，其输出结果有着与接触式表面粗糙度测量仪相同的操作性和互换性。
3D测量激光共焦显微镜 LEXT OLS4000
观察影像实例
精益求精的测量性能
理想的操作环境
卓越的粗糙度分析能力
精益求精的测量性能
轻松检测尖锐角
采用了有着高N.A. 的专用物镜，和能限度发挥405 nm 激光性能的专用光学系统，LEXT OLS4000可以的测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。
有尖锐角的样品（剃刀）
LEXT 专用物镜
克服反射率的差异
LEXT OLS4000 采用了新开发的双共焦系统。由于配置了2 个共焦光学系统，那些一直以来使用激光显微镜难以测量的、含有不同反射率材料的样品，也能在LEXT OLS4000上获得鲜明的影像。
反射率有差异的样品（钻石电镀工具）
双共焦系统
稳定测量环境
为了排除来自外部的影响，稳定测量，LEXT OLS4000 机座内置了由螺旋弹簧和阻尼橡皮组成的&混合减震机构&。所以，可以把LEXT OLS4000 放在普通的桌子进行测量作业，不需要专用的防震平台。
混合减震机构
混合减震机构减轻
振动带来的影响
受到来自外部的
振动的影响
世界首台有2个性能保证的激光显微镜
表示测量仪器的测量精度的，有2个指标。一个是测量值与真正值的接近程度（正确性），另一个则是多次测量值的偏差程度（重复性）。LEXT OLS4000是世界首台保证了&正确性&和&重复性&的激光显微镜。
2个性能保证
OLS4000从镜头制造到成品全部在奥林巴斯工厂完成，并按照一系列标准严格检查后出厂。交付产品时的校正和最后的调整，由选拔出来的技术人员在实际使用环境中执行。
更加真实的再现微小凹凸
微分干涉观察是超越了激光显微镜的分辨率、可以观察到纳米以下微小凹凸的观察方法。LEXT OLS4000 通过安装在物镜上方的DIC 分光棱镜，将照明光横向分为两束光线来照射样品。获取由样品直接反射回来的两束光线的差，生成明暗对比，从而实现对微小凹凸的立体观察。LEXT OLS4000 采用了微分干涉观察，即使是低倍率的动态观察，也能得到接近电子显微镜分辨率的影像。
有DIC（高分子薄膜）
无DIC（高分子薄膜）
对应大范围观察
在高倍率影像观察中，视场范围会变窄。LEXT OLS4000 搭载了缝合功能，最多可拼接500 幅影像，从而能得到高分辨率和大视场范围的影像数据。不仅如此，LEXT OLS4000 还能对该大视场影像进行3D 显示和3D 计测。
拼接的亮度影像
拼接的3D 影像
拼接前的影像
3D测量激光共焦显微镜 LEXT OLS4000 规格
UIS2光学系统（无限远校正）
108x～17280x
～16x16 &m
明视场／微分干涉／激光／激光微分干涉
405 nm　半导体激光
白色LED照明
粗调Z轴载物台
细调Z轴物镜转换器
驱动分辨率
&n-1=0.012 &m
5x, 10x, 20x, 50x, 100x
电动载物台
100x100 mm
276（W）x358（D）x405（H） mm
32 kg（只包括机身）
供应商简介
上海卓量精密仪器有限公司，是日本三丰/Mitutoyo、英国雷尼绍/Renishaw、爱斯佩克的专业代理销售服务商。长期的经营得到了客户的支持和认可。公司名称中的“卓量”二字，寓意为"卓越质量，卓越测量”，从企业创办之初，就决心专注于测量行业，服务专业客户。主要经营工业用测量仪器仪表。创办人在测量行业工作多年，了解各测量行业顶尖品牌的产品以及优势，具有丰富的行业经验，可以根据客户的产品提供最佳的测量解决方案。包括在线测量以及实验室测量，更可以提供配合机器人使用的全自动化在线测量成套方案。
主要产品包括工具显微镜、光谱仪、环境试验、材料试验机、三坐标测量仪、圆度圆柱测量仪、轮廓粗糙度测量仪
供应详情价格
内容声明：勤加缘网为第三方互联网信息服务提供者，勤加缘网（含网站、客户端等）所展示的商品/服务的标题、价格、详情等信息内容系由店铺经营者发布，其真实性、准确性和合法性均由店铺经营者负责。勤加缘提醒您购买商品/服务前注意谨慎核实，如您对商品/服务的标题、价格、详情等任何信息有任何疑问的，请在购买前通过QQ和电话与店铺经营者沟通确认；勤加缘网存在海量店铺，如您发现店铺内有任何违法/侵权信息，请立即向勤加缘举报并提供有效线索。本页面提供有关的供应详情信息，您是想采购？可以直接联系供应商哦。
勤加缘旗下网站：
版权所有：勤加缘网
&&&&网络文化经营许可证：您现在的位置：
厂商性质：
参展时间：6年
信用积分：1900
该厂商未开通400
厂商反馈速度
奥林巴斯工业激光共焦显微镜 LEXT OLS4100 (NEW!) 核心参数
提供全新的3D形貌分析方案
卓越的测量
更大的样品范围
轻松检测85& 尖锐角
有尖锐角的样品（剃刀）
采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统（能最大限度发挥405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。
LEXT 专用物镜
使用专用物镜时的最小象差
高度分辨率10 nm，轻松测量微小轮廓
(MPLAPON50XLEXT)
高度差标准 类型B, PTB-5, Institut f&r Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度测量中的检测
由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜，OLS4100 达到了0.12 &m 的平面分辨率。因此，可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的0.8 nm 的光栅读取能力和软件算法，例如奥林巴斯开创的I-Z 曲线（请参阅第23 页），OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。
克服反射率的差异
钻石电镀工具
物镜：MPLAPON50XLEXT
OLS4100 采用了双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，那些具有不同反射率材料的样品，也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。
适用于透明层
LEXT OLS4100 全新的多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域，并将各层设为焦点，这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量，而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。
观察／测量透明材料的各个层
多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。即使在玻璃基片上覆有一层透明树脂层，也可测量出各层的形状和粗糙度以及表面覆膜的厚度。
工业领域首创* 的两项性能保证
正确性和重复性
通常表示测量仪器的测量精度的，有2 个指标：&正确性&，即测量值与真正值的接近程度，和&重复性&，即多次测量值的偏差程度。OLS4100 是业界首次同时保证了&正确性&和&重复性&的激光扫描显微镜。
OLS4100 从物镜制造到成品全部在奥林巴斯工厂内完成，并按照一系列严格的标准进行全面的检验并确保产品的质量后方才出厂 。交付产品时，由选拔出来的技术人员，在实际使用环境中执行校正和最后的调整。
更多的测量类型
可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。
轮廓测量也同样可用
表面粗糙度测量
可以测量线粗糙度，以及平面整体的面粗糙度。
面积／体积测量
根据设置在轮廓截面上的任意阈值，可以测量其上部或下部的体积。
粒子测量 (选购件)
可以通过分离功能使粒子自动分离，设置阈值，根据ROI 设置检测范围。
可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。
膜厚测量 (选购件)
可以根据测出的对焦位置，测量透明介质的膜厚。
自动寻边测量 (选购件)
可以自动寻边，测量线宽和圆，减少人为的测量误差。
OLYMPUS Stream (选购件)
工作流程解决方案，实现了优秀的图像分析性能
对于粒子尺寸分析或非金属夹杂物级别的测量，可以使用OLYMPUS Stream 显微图像软件，该软件可以从OLS4100 直接上传。
想了解更多OLYMPUS Stream相关内容 &
更精准的粗糙度测量
LEXT OLS4100 参数
作为表面粗糙度测量的新标准，奥林巴斯开发了LEXT OLS4100。对LEXT OLS4100 进行了与接触式表面粗糙度测量仪同样的校正，并在LEXT OLS4100 上配置了几乎所有必要的粗糙度参数和滤镜。这样，对于使用接触式表面粗糙度测量仪的用户来说，能得到操作性和互换性良好的输出结果。另外，还搭载了粗糙度专用模式，可以用自动拼接功能测量样品表面直线距离最长为100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数，因此具有相互兼容的操作性和测量结果。
Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, P&Dq, Pmr(c), P&c, Pmr
粗糙度曲线
Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, R&Dq, Rmr(c),R&c, Rmr, RZJIS, Ra75
Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, W&Dq, Wmr(c), W&c, Wmr
Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte
粗糙度 (JIS1994)
Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp
R3z, P3z, PeakCount
适应下一代参数
OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度（3D）参数。通过评估平面区域，可以进行高可靠性的分析。
Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa
Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp
Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc
& LEXT OLS4100 与表面粗糙度测量仪的结果相兼容。
微细粗糙度
使用接触式表面粗糙度测量仪，无法测量比探针的针尖直径更细微的表面轮廓。而OLS4100 有着微小的激光光斑直径，所以能够对微细形状进行高分辨率的粗糙度测量。
非接触式测量
使用接触式表面粗糙度测量仪测量柔软的样品时，样品容易受到探针损伤而变形。另外，带有粘性的样品会粘在探针上，无法得到正确的测量结果。而非接触式的激光显微镜OLS4100，不会影响样品的表面状态，可以准确的测量样品
的表面粗糙度。
高分子薄膜3D 影像（上）和粗糙度测量结果（左）
柔软的样品
带有粘性的样品
微米级特征的测量
使用接触式表面粗糙度测量仪，其探针无法进入微米级的区域，所以不能对这些区域的特征进行测量。而OLS4100 可以正确定位，能轻松测量出特定微小区域的粗糙度。
高画质影像
清晰鲜明的3D 彩色影像
三种类型的综合影像
真彩3D 影像
LEXT OLS4100 可以同时获取三种不同类型的影像信息：真彩3D 影像、激光全焦点3D 影像和高度信息影像。
激光全焦点3D 影像
高度信息影像
再现自然色
OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相装置以生成清晰、色彩自然的影像，所得影像可以与高级的光学显微镜相媲美。
2D 彩色影像（纸张上的墨点、物镜20x）
3D 彩色影像（纸张上的墨点、物镜20x）
更加真实地再现表面, 激光DIC（激光微分干涉）
微分干涉观察是超越了激光显微镜的分辨率、可以观察到纳米以下微小表面轮廓的观察方法。LEXT OLS4100 通过安装在物镜上方的DIC 分光棱镜，将照明光横向分为两束光线来照射样品。获取由样品直接反射回来的两束光线的差，生成明暗对比，从而实现对微小凹凸的立体观察。LEXTOLS4100 拥有DIC 激光模式，即使是低倍率的动态观察，也能得到接近电子显微镜分辨率的影像。
无DIC 的激光影像（高分子薄膜）
有DIC 的激光影像（高分子薄膜）
无DIC 的激光影像（5x 物镜）
高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut f&r Mikroelektronik, Germany
有DIC 的激光影像（5x 物镜）
高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut f&r Mikroelektronik, Germany, 实际高度：6 nm
亮度和对比度之间更加优化的平衡, HDR（高动态范围）影像
OLS4100 的高动态范围（HDR）功能结合了多张以不同曝光率获取的光学显微镜影像，并且分别控制着亮度、对比度、纹理和饱和度，因此HDR 可以以宽动态范围处理影像。OLS4100 尤其可以对纹理不明显的样品的彩色影像进行清晰地观察。
无HDR 的彩色影像
（致密的织物、物镜20x、变焦1x）
有HDR 的彩色影像
（致密的织物、物镜20x、变焦1x）
稳定测量和成像环境
复合减震机构
为了排除来自外部的影响，稳定测量和成像，OLS4100 机座内置了由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的&复合减震机构&以稳定操作环境。所以，可以把OLS4100 放在普通的桌子进行测量作业，不需要专用的防震平台。
直观的GUI 实现系统化的工作流程
简易的三步流程
使用LEXT OLS4100，只需将样品放置在载物台上之后即可立即开始观察／测量。由于采用了简易的三步流程&&成像、测量和报表&&即使用户不熟悉激光显微镜，也可以快速掌握测量的流程。
始终明白&身在何处&
宏观图功能
OLS4100 的宏观图功能可以以低倍率显示大范围影像，并在宏观影像上显示一个矩形观察标记。该视场可以通过拼图设置为传统视场的441 倍。当配合电动六孔物镜转换器时，宏观图功能可以对载物台移动和倍率更改实现平滑、便捷的一键操作。可
以精确预设齐焦和确定物镜的中心，并可通过一键移动载物台和调整倍率进行同步。
快速的宏观图拼接
扫描大面积区域时有两种拼接方法可用：获取实时影像时的手动模式和快速获取影像时的自动模式。操作非常快速简单&&2D 拼接只需一键操作即可开始，并且可立即获得大面积的拼接影像。自动模式下有五级拼接尺寸可用，分别为：3&3、5&5、7&7、9&9 和21&21。对于影像上不需要的部分，可以使用简单的鼠标或控制杆操作手动删除。
用于简易3D 成像的智能扫描
自动3D 影像获取
传统的3D 扫描需要复杂的设置，这对新手来说非常困难。LEXT OLS4100 采用了全新的智能扫描模式，即使是初次使用的用户也只需一键操作即可快速获取3D 影像。除了上下限的设置，系统也会根据要获取的影像自动设置合适的亮度。这让即使是初次使用的用户也能获得精确的高度测量和优质的影像。
自动亮度控制
平面上的亮度控制
一定高度范围内的亮度控制。
大大缩短了获取时间
更快的扫描速度
新的超快模式获取扫描影像的速度是传统快速模式的2 倍，约是精细模式的9 倍。因此，对于那些需要非常精细的Z 轴移动和极高的放大倍率的样品，该模式就非常地适用，例如对刀具的尖端进行检测。
相同时间内获取的影像数量：
实际的扫描时间根据所用倍率和Z 获取范围而有所不同。
只在所需区域进行高速获取
OLS4100 还配备了带宽扫描模式，用于测量有限的目标区域，测量性能比传统模式快1/8。
全局扫描获取
带宽扫描获取（1/8）
全新的高速拼接模式
从大范围拼接影像中指定目标区域
在宏观图中，要观察的区域可以从大范围的视图中进行指定。在自动模式中，通过设置最多625 幅影像的矩形拼接尺寸，可以自动生成区域图，所需的时间大约只需要通常的一半。下一步，在区域图上指定所需的影像并立即开始观察。
拼接区域：方形（21&3）63 片
拼接区域：圆形（3 点）
手动指定所需的影像区域
在实时模式中，通过在屏幕上跟踪所需的区域，可以手动选择要观察的区域。当观察的样品具有不规则的形状时，该功能非常实用。
快速影像拼接
要使用智能扫描模式获取影像时，只需一键操作即可。由于智能扫描会自动调整Z 轴方向的设置，Z 轴方向的影像获取可以仅局限在所需的区域，因此可以在进行大范围大功率观察时节省很多时间。
智能扫描模式
传统获取模式
一键操作定制报表
OLS4100 在测量后可使用一键操作创建报表，而且使用编辑功能可以定制各个报表模板。将测量结果复制和粘贴到Word 或表格应用程序也非常简单，就像从数据库取回所需的影像和报表一样。
目标的一键解决方案
为用户设计的详细的向导功能取消了冗长的培训，让新手也能快速简单地进行操作。
常用搭配仪器
积分规则：
发表评论+4个积分，删除评论-8积分，
采纳评论+20积分
目前共评分0人仪器评分
您的综合评分：分发表评论后方能生效
产品采购年限
已有0条评论
仪器评论所有评论来自于仪器信息网的手机认证用户
可以输入500字
同品牌仪器当前位置：
&&&&&&&&&&&&OLYMPUS LEXT OLS4100 3D测量激光显微镜
OLYMPUS LEXT OLS4100 3D测量激光显微镜
[更新日期:]
产品型号：OLS4100
原产地：日本
品牌：Olymbus（日本）
价格：面议
产品数量：不限
产品关键字：3D测量激光显微镜
经营性质：国有企业
所在区域：&
地址：上海市虹口区广纪路738号 上海明
OLYMPUSLEXT& OLS4100 3D测量激光显微镜
品牌：奥林巴斯
型号：OLS4100
■产品介绍
奥林巴斯3D 测量激光显微镜广泛应用于不同行业的质量控制、研究和开发过程，它在激光显微领域树立了全新的标准。现在，为满足测量精度不断提高和测量范围日益扩大的需求，奥林巴斯推出了新型产品LEXT OLS4100。该产品不但可以让测量更加快速、简单，而且可以拍摄到更高画质的影像，大大突破了激光显微镜的界限。
OLS4100采用非接触式、无损、快速成像测量。激光扫描显微镜（LSM）采用的是低功率激光，不接触样品。因此，不像基于探针系统的接触式表面粗糙度仪那样存在损坏样品的风险。LSM无需前期的样品准备即可对样品进行测量。而且，将样品放置在载物台上之后，即可直接开始成像。LSM 采用更大数值孔径的物镜，和更小波长的光波，极大地提高了平面分辨率。并且通过高精度的激光控制技术，获得更为精确的样品表面形貌。根据拍摄到的图像，LSM 可以进行非常精确的XY 平面亚微米测量。在X,Y方向上LEXT OLS4100 达到了0.12 μm 的平面分辨率。LSM 采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统，会删除未聚焦区域的信号，只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力，可以生成高画质的影像，实现精确的3D测量。使得LEXT OLS4100 在Z方向上达到了10 nm的高度分辨率。
LEXT OLS4100可用来测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D 表面形貌、
2D 的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。
? 精密部件：检测对表面磨损，表面粗糙度，表面微结构有要求的零部件；
? 生命科学
? 电子元件：光掩膜，微透镜，柔性电路板接触点，MEMS等
? 半导体：晶圆凸起，导光板，芯片焊点，导光板激光点等
? 原材料/金属加工：电镀金刚石工具，碳精棒，极细管，胶带等
? 纸张：纸张、钱币表面三维形貌测量
■技术参数
光源：405nm半导体激光 白色LED
检出系统：光电倍增管
变焦：光学变焦：1～8X，数码变焦：1～8X
分辨率：移动分辨率10nm，显示分辨率1nm
物镜转换器：6孔电动物镜转换器
物镜：100x，50x，20x，10x，5x等
XY载物台：100×100 mm（电动载物台），可选： 300×300 mm（电动载物台）
设备咨询联系人:
Ronnie Chen&+86-21-&&&+86-21-&.cn
联系我时，请说是在搜了网上看到的，谢谢！
商家产品系列：
除了OLYMPUS LEXT OLS4100 3D测量激光显微镜，您也可能对以下产品感兴趣
电话：021 &&
手机：&&联系我时，请告知来自搜了网！
地址：上海市虹口区广纪路738号 上海明珠创意产业园4号楼2楼
邮编：200434
OLYMPUS LEXT OLS4100 3D测量激光显微镜相关栏目
上海企业名录
&&&&&&&&&&&&&&&
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&
还没找到您需要的？立即发布您的求购意向，让主动与您联系！
免责声明： 以上所展示的信息由企业自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布企业负责。搜了网对此不承担任何责任。
按排行字母分类：|||||||||||||||||||||||||
||联系我们}