微波技术基础10-微波谐振腔的微扰理论_图文_百度文库
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微波技术基础10-微波谐振腔的微扰理论
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第四章微波谐振腔
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第四章微波谐振腔
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3秒自动关闭窗口一列声波在空气中的波长为34 cm，传播速度为340 m/s，这列声波传入另一介质时，波长变为68 cm，它在这种介质中的传播速度是多少？该声波在空气中与介质中的频率各是多少？
680 m/s　1 000 Hz　1 000 Hz
在空气中v＝λf，f＝
＝1 000 Hz.由于波由一种介质进入另一种介质时，f不变，则在介质中时，v′＝λf，v′＝1 000×68×10 －2 m/s ＝680 m/s.
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扫描下载二维码HFSS仿真介质谐振器“自然谐振频率”的RCS方法 - HFSS使用问答
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HFSS仿真介质谐振器“自然谐振频率”的RCS方法
HFSS仿真介质谐振器“自然谐振频率”的RCS方法
如何运用仿真软件计算出一个介质谐振器自身的本征频率？&
这个问题并不陌生，这里早就有人问过，但没见到过合理的解决方案。有人采用的方法是：把介质谐振器当作天线，通过寻找介质谐振天线的谐振频率来确定谐振器自身的本征频率；也有人直接把介质谐振器放置在金属腔体内部，通过计算整体的谐振频率来确定谐振器自身的本征频率。这两种方法其实都不够准确，馈电结构或者金属腔体的存在影响到了介质谐振器的自然属性。&
这里介绍一种用RCS确定介质谐振器自身本征频率的方法。原理很简单，这里不再赘述。简单说一下HFSS中的设置。&
1、建立谐振器模型&
2、建立包围谐振器的空气腔体，大小和天线仿真要求一样&
3、radiation boundary&
4、加平面波入射源：不要选任何东西，HFSS-Exitations-Assign-Incident Wave-Plane Wave&
5、中心频率以及扫描频率&
6、开始仿真即可&
附件包括一篇用RCS确定谐振器频率的MTT文章，还有一个验证该文章中结果的HFSS模型。&
只供研究参考，谢绝商业利用。
正在找谐振腔的相关资料呢，希望有用
看看看看看看看看
你的例子是用哪个版本打开啊？我用10.0打开提示错误
怎么下载呀
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反射式谐振腔微扰法微波介质材料的介电常数北京科技大学实验报告
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篇一：微波介质特性的测量实验报告
篇二：实验六 用谐振腔微扰法测量介电常数
北京邮电大学
电磁场与微波测量实验报告
学院：电子工程学院
报告撰写人：
实验六 用谐振腔微扰法测量介电常数
微波技术中广泛使用各种微波材料，其中包括电介质和铁氧体材料。微波介质材料的介电特性的测量，对于研究材料的微波特性和制作微波器件，获得材料的结构信息以促进新材料的研制，以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。
一、 实验目的
1． 了解谐振腔的基本知识。
2． 学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法
二、 实验原理
本实验是采用反射式矩形谐振腔来测量微波介质特性的。反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板，另一端加上封闭的金属板，构成谐振腔，具有储能、选频等特性。
谐振条件：谐振腔发生谐振时，腔长必须是半个波导波长的整数倍，此时，电磁波在腔内连续反射，产生驻波。
谐振腔的有载品质因数QL由下式确定：
式中：f0为腔的谐振频率，f1，f2分别为半功率点频率。谐振腔的Q值越高，谐振曲线越窄，因此Q值的高低除了表示谐振腔效率的高低之外，还表示频率选择性的好坏。
如果在矩形谐振腔内插入一样品棒，样品在腔中电场作用下就会极化，并在极化的过程中产生能量损失，因此，谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。
反射式谐振腔谐振曲线
图2 微找法TE10n模式矩形腔示意图
电介质在交变电场下，其介电常数ε为复数，ε和介电损耗正切tanδ可由下列关系式表示：
???tan???????j???，
其中：ε，和ε，，分别表示ε的实部和虚部。
选择TE10n，(n为奇数)的谐振腔，将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处，
即x＝α／2，z＝l／2处，且样品棒的轴向与y轴平行，如图2所示。 假设：
1．样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长九相比小得多(一般
d／h&1／10)，y方向的退磁场可以忽略。
2．介质棒样品体积Vs远小于谐振腔体积V0，则可以认为除样品所在处的电磁场发生变化外，其余部分的电磁场保持不变，因此可以把样品看成一个微扰，则样品中的电场与外电场相等。
这样根据谐振腔的微扰理论可得下列关系式
fs?f0V??2(?
式中：f0,fs分别为谐振腔放人样品前后的谐振频率，Δ (1／QL)为样品放人前后谐振腔的有载品质因数的倒数的变化，即
111)??QLQLSQL0
QL0，QLS分别为放人样品前后的谐振腔有载品质因数。
三、 实验装置
1. 微波信号源需工作在最佳等幅、扫描状态。
2. 晶体检波器接头最好是满足平方律检波的，这时检波电流表示相对功率(I
3. 检波指示器用来测量反射式谐振腔的输出功率，量程0～100μA。
4. 微波的频率用波长表测量刻度，通过查表确定微波信号的频率。
5. 用晶体检波器测量微波信号时，为获得最高的检波效率，它都装有一可调短
路活塞，调节其位置，可使检波管处于微波的波腹。改变微波频率时，也应改变晶体检波器短路活塞位置，使检波管一直处于微波波腹的位置。
试验装置示意图
1― 微波信号源 2―隔离器 3―衰减器 4―波长表 5―测量线 6―测量线晶体
7―选频放大器
8―环形器 9―反射式谐振腔 10―隔离器
11―晶体检波器
四、 实验内容
1． 按图接好各部件。注意：反射式谐振腔前必须加上带耦合孔的耦合片，
接入隔离器及环形器时要注意其方向。
3． 开启微波信号源，选择“等幅”方式，预热30分钟。 测量谐振腔的长度，根据公式计算它的谐振频率，一定要保证n为奇
4． 将检波晶体的输出接到电流表上，用电流表测量微波的大小，在计算
的谐振频率附近微调微波频率，使谐振腔共振，用直读频率计测量共振频率。
5． 测量空腔的有载品质因数，注意： f1， f2与f0的差别很小，约
0．003GHz。
8． 加载样品，重新寻找其谐振频率，测量其品质因数。 测量介质棒及谐振腔的体积。 计算介质棒的介电常数和介电损耗角正切。
五、 实验数据（介质棒颜色为白色）
由样品谐振腔的长66mm，宽22.86mm，高10.16mm可得
V0 =立方毫米
由样品半径0.7mm，高10.16mm 可得
Vs=15.632立方毫米
由样品谐振频率以及半功率点频率可以计算出样品谐振腔的品质因数（f0
=9257.0MHz
f1 =9250.0MHz
f2 =9266.0MHz）
QLo?f0= 587.6 f1?f2
样品插入后，由谐振频率以及半功率点频率可以计算出样品放入后的品质因数（fs =9243.0MHz
f1 =9236.0MHz
f2 =9246.0MHz）
QLs?fs1?f2=924.3
联立实验原理中的各式可求得介质棒的介电常数与介电损耗角正切。
????????j???= 2.483+0.152j
tan??=?0.0612 ??篇三：电磁场与微波测量实验报告 微波 实验六 用谐振腔微扰法测量介电常数
北京邮电大学 电磁场与微波测量实验报告
实验六用谐振腔微扰法测量介电常数
微波技术中广泛使用各种微波材料，其中包括电介质和铁氧体材料。微波介质材料的介电特性的测量，对于研究材料的微波特性和制作微波器件，获得材料的结构信息以促进新材料的研制，以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。
一、 实验目的
1． 了解谐振腔的基本知识。
2． 学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法
二、 实验原理
本实验是采用反射式矩形谐振腔来测量微波介质特性的。反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板，另一端加上封闭的金属板，构成谐振腔，具有储能、选频等特性。
谐振条件：谐振腔发生谐振时，腔长必须是半个波导波长的整数倍，此时，电磁波在腔内连续反射，产生驻波。
谐振腔的有载品质因数QL由下式确定：
式中：f0为腔的谐振频率，f1，f2分别为半功率点频率。谐振腔的Q值越高，谐振曲线越窄，因此Q值的高低除了表示谐振腔效率的高低之外，还表示频率选择性的好坏。
如果在矩形谐振腔内插入一样品棒，样品在腔中电场作用下就会极化，并在极化的过程中产生能量损失，因此，谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。
反射式谐振腔谐振曲线
图2 微找法TE10n模式矩形腔示意图
电介质在交变电场下，其介电常数ε为复数，ε和介电损耗正切tanδ可由下列关系式表示：
???tan???????j???，
其中：ε，和ε，，分别表示ε的实部和虚部。
选择TE10n，(n为奇数)的谐振腔，将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处，
即x＝α／2，z＝l／2处，且样品棒的轴向与y轴平行，如图2所示。 假设：
1．样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长九相比小得多(一般
d／h&1／10)，y方向的退磁场可以忽略。
2．介质棒样品体积Vs远小于谐振腔体积V0，则可以认为除样品所在处的电磁场发生变化外，其余部分的电磁场保持不变，因此可以把样品看成一个微扰，则样品中的电场与外电场相等。
这样根据谐振腔的微扰理论可得下列关系式
fs?f0V??2(?
式中：f0,fs分别为谐振腔放人样品前后的谐振频率，Δ (1／QL)为样品放人前后谐振腔的有载品质因数的倒数的变化，即
?(111)??QLQLSQL0
QL0，QLS分别为放人样品前后的谐振腔有载品质因数。
三、 实验装置
1. 微波信号源需工作在最佳等幅、扫描状态。
2. 晶体检波器接头最好是满足平方律检波的，这时检波电流表示相对功率(I
3. 检波指示器用来测量反射式谐振腔的输出功率，量程0～100μA。
4. 微波的频率用波长表测量刻度，通过查表确定微波信号的频率。
5. 用晶体检波器测量微波信号时，为获得最高的检波效率，它都装有一可调短
路活塞，调节其位置，可使检波管处于微波的波腹。改变微波频率时，也应改变晶体检波器短路活塞位置，使检波管一直处于微波波腹的位置。
试验装置示意图
1― 微波信号源 2―隔离器 3―衰减器 4―波长表 5―测量线 6―测量线晶体
7―选频放大器
8―环形器 9―反射式谐振腔 10―隔离器
11―晶体检波器
四、 实验内容
1． 按图接好各部件。注意：反射式谐振腔前必须加上带耦合孔的耦合片，
接入隔离器及环形器时要注意其方向。
3． 开启微波信号源，选择“等幅”方式，预热30分钟。 测量谐振腔的长度，根据公式计算它的谐振频率，一定要保证n为奇
4． 将检波晶体的输出接到电流表上，用电流表测量微波的大小，在计算
的谐振频率附近微调微波频率，使谐振腔共振，用直读频率计测量共振频率。
5． 测量空腔的有载品质因数，注意： f1， f2与f0的差别很小，约
0．003GHz。
8． 加载样品，重新寻找其谐振频率，测量其品质因数。 测量介质棒及谐振腔的体积。 计算介质棒的介电常数和介电损耗角正切。
五、 实验数据（介质棒颜色为白色）
由样品谐振腔的长66mm，宽22.86mm，高10.16mm可得
V0 =立方毫米
由样品半径0.7mm，高10.16mm 可得
Vs=15.632立方毫米
由样品谐振频率以及半功率点频率可以计算出样品谐振腔的品质因数（f0
=9262.2MHz
f1 =9258.7MHz
f2 =9266.3MHz）
1?f2=1218.7
样品插入后，由谐振频率以及半功率点频率可以计算出样品放入后的品质因数（fs =9242.3MHz
f1 =9238.1MHz
f2 =9246.1MHz）
QLs?fsf1?f2=2199.5
联立实验原理中的各式可求得介质棒的介电常数与介电损耗角正切。
????????j???= 2.053+0.090
tan??=?0.0438 ??
六、 实验篇四：微波介质特性的测量实验报告
嘉应学院物理学院近代物理实验
实验项目：实验地点：
实验时间：
一、 实验目的：
1.对微波材料的介质特性的测量，有助于获得材料的结构信息;
2.研究了的微波特性和设计微波器件。
3.本实验采用谐振腔微扰法测量介质材料的特性参量，学习反射式腔测量微波材料的介电常数?'和介电损耗角tg?的原理和方法。
二、实验仪器和用具：
介质材料：
半径0.7 mm
长度10.16 mm
白色样品：聚四氟乙烯；
透明样品：有机玻璃；
褐色样品：黑焦木
三、实验原理：
谐振腔是两端封闭的金属导体空腔，具有储能、选频等特性，常见的谐振腔有矩形和圆柱形两种，本实验采用反射式矩形谐振腔，谐振腔有载品质因数可由
测定，其中f0为谐振腔振频率，f1，f2分别为半功率点频率。图8.2.1所示是使用平方律检波的晶体管观测谐振曲线f0，f1和f2的示意图。
如果在矩形谐振腔内插入一圆柱形的样品棒，样品在腔中电场的作用下就会被极化，并在极化的过程中产生的能量损失。因此，谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。
根据电磁场理论，电介质在交变电场的作用下，存在转向极化，且在极化时存在驰豫，因此它的介电常量为复数：
?? ?r?0??0(?'?j?'')
式中?为复电常量，?0为真空介电常量，?r为介质材料的复相对介电常量，?'、?''分别为复介电常量的实部和虚部。
由于存在驰豫，电介质在交变电场的作用下产生的电位移滞后电场一个相位角?，且有
tg?＝?''/?'
因为电介质的能量损耗与tg?成正比，因此tg?也称为损耗因子或损耗角正切。
如果所用的样品体积远小于谐振腔体积，则可认为除样品所在处的电磁场发生变化外，其余部分的电磁场保持不变，因此可用微扰法处理。选择TE10p（p为奇数）的谐振腔，将样品置于谐振腔内的微波电场最强而磁场最弱处，即x=a/2，z=l/2处，且样品棒的轴向与y轴平行。
假设介质棒实均匀的，而谐振腔的品质因数又较高，根据谐振腔的微扰理论可得下列关系式
fS?f0V??2?'?1S,f0V0??
如此可求得 V1?4?''S.QLV0
f0?fS?1,2f0VS/V0
??1/QL?,4VS/V0 ?'??''?
其中f0，fS分别为谐振腔放入样品前后的谐振频率，VS，V0分别为谐振腔体积和样品体积，??1/QL?为样品放入前后谐振腔又载品质因数的变化，即
?1???Q?L?11???. ?QQLSL0?
QLS，QL0分别为样品放入前后的谐振腔有载品质因数。
四、实验步骤：
按照要求顺序连接实验装置，用固态源作微波源。打开固态源电源开关，选择等幅、扫频方式，扫描输出接至示波器CH1，晶体检波器输出接至示波器CH2，示波器显示方式选择双路同时显示。
二、 测定介电常量?'和介电损耗角正切tg?。
谐振，调节单螺调配器，使谐振曲线两边等高。调节波长表，测量谐振腔谐振频率f0和半功率点频率f1和f2。
（注意：波长表的出厂序号与波长表频率－刻度对照表序号要对应）
2．放入样品后，测量谐振腔谐振频率f0和半功率点频率f1和f2。
3．从谐振腔标签上记下谐振腔的长、宽、高，计算其体积V0；记下样品半
径、长度，计算体积VS。
4．计算样品的介电常量?'和介电损耗角正切tg?
'''1． 放入样品前，调节频率调节旋钮、可变衰减器、晶体检波器，使谐振腔
五、实验数据记录
六、实验数据处理：篇五：用谐振腔微扰法测量微波介质特性 2
用谐振腔微扰法测量微波介质特性
微波技术中广泛使用各种微波材料，其中包括电介质和铁氧体材料。微波介质材料的介电特性的测量，对于研究材料的微波特性和制作微波器件，获得材料的结构信息以促进新材料的研制，以及促进现代尖端技术(吸收材料和微波遥感)等都有重要意义。
本实验是采用反射式矩形谐振腔用微扰法来测量微波介质特性的。反射式谐振腔是把一段标准矩形波导管的一端加上带有耦合孔的金属板，另一端加上封闭的金属板，构成谐振腔，它具有储能、选频等特性。而微扰法则是通过分析腔体的微小变形对谐振频率的影响，来测量谐振腔的一些主要参数的，它不仅对加深谐振腔的理解有帮助，而且在谐振腔的设计和调试中也有实际的。
2.1 实验目的
1．了解谐振腔的基本知识。
2．学习用谐振腔法测量介质特性的原理和方法
实验原理：
一、谐振腔的基本知识
谐振腔是在微波频率下工作的谐振元件，它是一个任意形状的导电壁（或导磁壁）包围的，并能在其中形成电磁振荡的介质区域，它具有储存电磁能及选择一定频率信号的特性。
1、谐振腔的基本参数
谐振腔通常采用谐振频率f0 (或谐振波长?0)、品质因数Q0及等效电导G0作为它的基本参数。
（1） 谐振频率f0 (或谐振波长?0)
谐振频率描述电磁能量在谐振腔中的运动规律。它是指在谐振腔中激起的电磁振荡的工作频率（或工作波长）。比较普遍的求解谐振频率的方法是“场分析的方法”，它从求解谐振腔的电磁场边值问题入手，导出谐振频率或波长。
从电磁场理论可知，在自由空间中，电磁场满足的波动方程及边界条件为
????2?E?kE?0
????2?H?kH?0
??k0??，μ、ε为谐振腔中介质参数,n是由腔壁导体式中,k?????k0????
指向外的法向单位矢量,k是与谐振腔的几何形状、尺寸及波型有关的数值。在谐振腔内满足式1的电磁场对应于一系列的确定的kn值(称为本征值)。即 2222无耗22?
求出了本征值kn后,谐振腔的谐振频率f0n即可由式3求出。在微波谐振腔中也存在着具有相同谐振频率而场结构不同的电磁振荡，一般称为简并振荡，这是不希望出现的。对于两端由良导体封闭的空气填充的规则波导传输线构成的谐振腔，产生振荡的条件是腔内形成稳定的驻波，这时，腔两端壁间的距离l应等于驻波波节间距?g的整数倍，即
2,(p?1,2,3?)
上式表明,在一定的腔体尺寸下,只有那些在腔中满足一定驻波分布的电磁振荡才能存在,而它们的波导波长?g由腔的截面形状和尺寸所决定,即
该电磁振荡所对应的波长称为谐振波长?0。对于非色散波(TEM波),因为?g??0,所以有
对于色散波(如TE,TM波),因为
??0?????c????2
相应的谐振频率可由f0?
（2） 品质因数Q 1??p??????2l???22
7 vc0的关系求出。
品质因数是描述谐振系统频率选择性的优劣及电磁能量损耗程度的一个物理量.它定义为
Q0?2?WWW?2???0
其中PL为腔的平均损耗功率.W腔内储能是电能和磁能之和，当磁能最大时，电能为零，反之亦然。因此，储能W可表示为 ?2?211
W???HdV???EdV
式中V为腔的体积,μ和ε为腔所填介质的介质常数。
当只考虑导体损耗时,腔的平均损耗功率为
?2?2?0??HdV?0??EdVVVQ0??
10 22RsHtdsRsEtdsSS
式中RS(RS?1
??)是表面电阻率, ??2
?0?0?0?Ht为腔内表面的切向磁场, 为趋肤深度；
S为腔内表面的面积,V为腔的体积,μ和ε为腔所填介质的介质常数
如果腔中充满介质(如介质腔),则除导体损耗外还存在介质损耗,设介质的电导率为?d,则腔内的介质损耗功率Pd为 ?21 Pd??d?EdV
因此，若仅考虑介质损耗时，腔的品质因数Qd为：
Qd??0W?1??0?
12 Pd?dtan?
式中,tan???d为介质损耗角正切,是表征介质材料损耗程度的一个参量,它等于传导电?0?
流与位移电流的比值。
有负载时的品质因数称为有载品质因数Ql,它可表示为
Pl??0WP0?Pe?Q0Qe
式中,Q0为谐振腔固有品质因数. Qe??0W
Pe称外界品质因数。
二、微波谐振腔的微扰理论
当谐振腔的腔壁或腔内填充的介质有微小变化时，谐振腔的基本参量为f0及Q0等也有相应的微小变化。如果这种变化对场分布及原有的参数影响很小，就称为“微扰”。对于这一问题的求解，一般是根据微扰前的已知解来近似地求出微扰后的解，而不必在新的条件下求解波动方程，这种求解方法称为“微扰法”。
设有一谐振腔，其体积为V，内填充空气，设未受微扰前场强为E0和H0，谐振角频率为?0，现有一微扰介质插入腔内，介质体积为?V，其特性用μ和ε表示。微扰后的场强为E和H，谐振角频率为?。应用麦克斯韦方程可得
???0????V?*??*?????0?E0?E?????0?H0?HdV
13 **??0E0?E??0H0HdVV?
就是谐振腔微扰理论的基本公式.
设放入空腔内微扰介质的体积?V很小，以致它对?V以外区域的场的影响可忽略不计。即可近似地认为在?V以外的区域，微扰前后的场相等。即
????E?E0,H?H0 (在?V之外)
在近似条件下,13式右边分母可化简等于4W,W是谐振腔的全部储能,于是13式简化为
???*??*?????0?E0?E?????0?H0?HdV?
通常，如果微扰的介质是电介质,则应置于腔内电场最强的地方，在该处磁场最弱,因而磁场可忽略不计(即在?V内，H0=0)，如果微扰介质是磁性材料(磁介质)，则应置于腔内磁场最强的地方，在该处电场可忽略不计(即在?V内，有H0=0)。
谐振腔品质因数Q的测量
谐振腔品质因数Q是表征微波系统的一个重要技术参量，其测量方法很多，通常根据待测谐振腔Q值的大小、外界电路耦合的程度及要求的精度等选择不同的方法。本实验用功率传输法。它是根据谐振腔功率传输特性来确定它的Q值的。 当谐振腔两端接匹配微波源和匹配负载时，其有载品质因数为
式中：f0为腔的谐振频率，f1，f2分别为半功率点频率。谐振腔的Q值越高，谐振曲线越窄，因此Q值的高低除了表示谐振腔效率的高低之外，还表示频率选择性的好坏。
介质介电常数的测量
如果在矩形谐振腔内插入一样品棒，样品在腔中电场作用下就会极化，并在极化的过程中产生能量损失，因此，谐振腔的谐振频率和品质因数将会变化。
反射式谐振腔谐振曲线
微扰法TE10n模式矩形腔示意图
电介质在交变电场下，其介电常数ε为复数，ε和介电损耗正切tanδ可由下列关系式 表示：
?????j???，
，，，???，
16 ??其中：ε和ε分别表示ε的实部和虚部。
选择TE10n，(n为奇数)的谐振腔，将样品置于谐振腔内微波电场最强而磁场最弱处，即x＝α／2，z＝l／2处，且样品棒的轴向与y轴平行，如图2所示。
1．样品棒的横向尺寸d(圆形的直径或正方形的边长)与棒长相比小得多(一般
d／h&1／10)，y方向的退磁场可以忽略。
2．介质棒样品体积Vs远小于谐振腔体积V0，则可以认为除样品所在处的电磁场发生变化外，其余部分的电磁场保持不变，因此可以把样品看成一个微扰，则样品中的电场与外电场相等。
这样根据谐振腔的微扰理论可得下列关系式
fs?f0V??2(???1)S
式中：f0,fs分别为谐振腔放人样品前后的谐振频率，Δ (1／QL)为样品放人前后谐振腔 的有载品质因数的倒数的变化，即
18 QLQLSQL0
QL0，QLS分别为放人样品前后的谐振腔有载品质因数。
测试系统组成
1．波导管：本实验所使用的波导管型号为BJ―100，其内腔尺寸为α＝22.86mm，b＝10．16mm。其主模频率范围为8.20～12.50GHz，截止频率为6.557GHz。
2．隔离器：位于磁场中的某些铁氧体材料对于来自不同方向的电磁波有着不同的吸收，经过适当调节，可使其对微波具有单方向传播的特性。隔离器常用于振荡器与负载之间，起隔离和单向传输作用。
3．衰减器：把一片能吸收微波能量的吸收片垂直于矩形波导的宽边，纵向插入波导管用以部分衰减传输功率，沿着宽边移动吸收片可改变衰减量的大小。衰减器起调节系统中微波功率以及去耦合的作用。
4．谐振式频率计（波长表）：
电磁波通过耦合孔从波导进入频率计的空腔中，当频率计的腔体失谐时，腔里的电磁场极为微弱，此时，它基本上不影响波导中波的传输。当电磁波的频率满足空腔的谐振条件时，}